single event upset

aléas logiques

Le SEU (Single Event Upset ou aléa logique) est le changement d’état d’un point mémoire suite au passage d’une particule ionisante. Cette particule ionisante peut arriver directement de l’extérieur ou être générée de façon indirecte après une ou plusieurs interactions. Le SEU une erreur soft qui n’endommage donc pas le composant impacté. L’information stockée peut en revanche être erronée. Même si la probabilité d’être confronté à des erreurs soft d’origine radiative dans la vie de tous les jours reste faible, le risque existe et nécessite d’être évalué. Ainsi, suivant les systèmes électroniques concernés et leurs applications, des procédés de durcissements pourront développésen adéquation avec le niveau de risque toléré. Parmi les sources de particules, la contamination alpha reste plus particulièrement un problème de fiabilité majeur dans les composants électronique d’aujoud’hui. En effet, tout matériau possède intrinsèquement un niveau de contamination. Elle peut être maitrisé au détriment du coût de fabrication pour les applications à haut niveau de fiabilité.